新進儀器說明會

【低溫X光單晶繞射儀(X-ray Single Crystal Diffractometer)】

時間：109年03月03日 (二) 9:00-11:00

地點：第一教學大樓(B1) B117 

 

特色及應用

鑑定各種分子(藥物、材料、礦物等)在結晶樣品中的形狀與結構，

精確的原子間距及其他結構參數均可以鑑定出來，通常結果以三度空間的分子圖像表示出來，

是化學、材料、醫藥等各方面均須使用之儀器。

測定項目：

(一)、一般服務

1.晶體常數測定 (Index)

2.繞射數據收集 (Data Collection)

3.結構解析 (Structure Solving)

(二)、特殊服務

1.低溫實驗之資料收集

2.空氣不穩定樣品處理

 

注意事項

1. 請於109/02/29 PM18:00前，於指定網站線上報名。

2. 若有任何問題可與此儀器操作員張育綸博士聯繫 分機：6984。

儀器/課程諮詢

負責教師：陳喧應 教授 分機：2585

儀器操作人員：張育綸 博士 分機：6984

 

中心主任：許雅玲 分機：2136#26